Ukryj filtry
Sortowanie
Źródło opisu
Katalog zbiorów
(1)
Forma i typ
Książki
(1)
Dostępność
dostępne
(1)
Placówka
Staszów - wypożyczalnia
(1)
Autor
Niemierko Bolesław (1935- )
(1)
Sygniewicz Janina
(1)
Walczak Wojciech (1959- )
(1)
Rok wydania
2000 - 2009
(1)
Kraj wydania
Polska
(1)
Język
polski
(1)
Temat
Egzaminy szkolne
(1)
Oceny szkolne
(1)
1 wynik Filtruj
Brak okładki
Książka
W koszyku
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych / red. Bolesław Niemierko ; współred. Janina Sygniewicz, Wojciech Walczak ; [Wyższa Szkoła Humanistyczno-Ekonomiczna w Łodzi et al.]. - Łódź : Wydaw. WSH-E, cop. 2003. - 395 s. : mapy, rys., tab., wykr. ; 24 cm.
Autor
Niemierko Bolesław (1935- ). Sygniewicz Janina. Walczak Wojciech (1959- ).
Temat
Egzaminy szkolne Oceny szkolne
Symbol UKD: 371.26/.27(061)
U dołu okł.: IX Krajowa Konferencja z cyklu Diagnostyka Edukacyjna, Łódź 24-26 września 2003 roku.
Bibliogr. przy mater.
Tekst częśc. ang.
dostępna do wypożyczenia
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Staszów - wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 24120 (1 egz.)
Wyprowadzać dodatkowo:
sygnatury
identyfikatory
hasła przedmiotowe
lokalizacja
streszczenia
numer ISBN
hasło sortowania
adres wersji elektronicznej
rozmieszczenie egzemplarzy
opis fizyczny
Sortowanie zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej